PF TEM原位力学-电学性质测试系统

透射电子显微镜是唯一的提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位力学-电学性质测试系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元和纳牛顿力传感器，通过探针对单个纳米结构进行操控和拉应力、压应力、电学测量。并可在力学、电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，极大地拓展了透射电镜的功能和应用领域。

本系统包含两部分：扫描探针控制器和预案为测量样品杆。

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