PF TEM原位光电性质测试系统

本系统是在透射电镜标准样品杆内加装扫描探针控制单元，可在三维空间内对电学探针与光纤探针进行亚纳米级精度的操纵与定位。通过电学探针施加电场，通过光纤施加光场，对单个纳米结构进行操控并进行电学性质、光学性质的测量。并可在物性测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，极大地扩展了透射电镜的功能与应用领域。