专业,专注
探索微观世界
碳基底锡球检测标样主要用于SEM和LM 2 5 0 -5,000x倍下的分辨率检测工作,也适合检测和校正成像质量(畸变、像散、对比度、亮度等)。同时,也可比较获得探针尺寸。
锡球粒径范围:1-1-10μm