MAX-8000微区X射线荧光光谱仪
MAX-8000
微区X射线荧光光谱仪（μXRF）
裕隆时代向用户推出 品质优秀的MAX-8000微区X射线荧光光谱仪（μXRF）。
基本原理
X射线荧光光谱仪（XRF）是利用X射线光管发出的初级X射线来激发样品中的原子，使原子产生特征X射线。通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X射线波长（或能量）和强度，可以获得样品中的元素组成与含量信息，从而对样品元素进行定性定量分析。
MAX-8000微区X射线荧光光谱仪，利用 X 射线全反射的原理，将 X 射线管激发出的 X 射线束在多导毛细玻璃管的内壁以全反射的方式进行传输，利用毛细玻璃管的弯曲来改变 X 射线传输方向，从而实现 X 射线聚焦到非常小的区域（μm级），同时将 X 射线的强度增加 2～3 个数量级，以获得更好的空间分辨率和更准确的元素成分分析。
MAX-8000仪器优点
- 高空间分辨率：MAX-8000微区X射线荧光光谱仪采用多导毛细管聚焦镜技术，将X射线聚焦到非常小的区域，同时将 X 射线强度增加 2～3 个数量级，从而获得极佳的空间分辨率，在μm级别范围内进行精确的元素分析。
- 非破坏性分析：超大样品仓，无需对样品进行破坏或切割处理，可直接对大块样品、不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物等进行分析，尤其适用于珍贵、历史或不可逆的样品。
- 激光位移传感器自动控制样品与 X 射线源之间的距离：本谱仪采用精度20 微米的激光位移传感器，在计算机的控制下，实时调整样品被测量点与毛细管 X 光透镜出端的距离，严格保证样品被测量点位于毛细管透镜的焦斑上，大幅提高测量的准确性。
- 多元素同时分析：可以同时测定样品中多种元素的含量和分布情况，从百分比级别到亚 ppm（百万分之一）级别的浓度都可以测量，分析范围涵盖元素周期表中大部分元素。
- 快速分析：具备快速面扫描元素成像分析功能，能迅速对样品进行筛选，找出感兴趣的样品信息和位置，可在几分钟内完成一个样品的分析。
方便快捷的操作界面
- 多种测量环境：可在空气、氦气和真空（定做）等环境下进行测量，以满足不同样品测试需求。
应用领域
材料科学：用于新材料研发、质量控制，解析材料微观结构与性能的关联，如分析金属、陶瓷、半导体等材料中的元素组成和分布，研究材料的相变、扩散等过程。
- 地质勘探：快速分析矿石、岩石的矿物组成，确定矿产类型、矿物含量和地质构造，为资源勘查提供准确数据支持，助力矿产资源的高效开发和利用。
- 环境监测：检测土壤、水源、大气颗粒物等环境样品中的重金属元素、有害元素含量，为环境保护、污染治理提供数据依据。
生物医学：对生物组织切片、生物材料、医疗器械等进行元素分析，研究生物体内元素的分布和代谢，助力疾病诊断、药物研发等，如研究生物材料在体内的降解过程中元素的释放和分布。
- 考古学与文物保护：分析文物的制作材料、产地、年代等信息，帮助鉴定文物真伪、研究文物的历史和文化背景，如对陶瓷、青铜器、书画等文物进行无损检测。
MAX-8000技术规格
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MAX-8000
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性能参数 |
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微焦斑X射线管 |
焦斑50μm×50μm，30W，风扇冷却 |
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X 射线探测器 |
SDD 120ev (5.9keV) |
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毛细管 X 光透镜 |
聚焦 X 射线束光斑直径 20 微米～600 微米（Mo-Kα） |
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控制系统 |
PLC |
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激光位移传感器 |
精度 20 微米 |
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CCD 相机 |
1400 万像素，放大倍数 20 |
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三维样品台 |
行程 40mm×40mm×40mm，编码器控制的步进电机， 精度 0.1 微米/步，承重 50Kg；可个性化定制 |
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数据处理 |
基于小波变换的能谱峰面积计算和本底扣除； 二维样品扫描谱处理软件：基本参数法定量分析，标样偏最小二乘法拟合 |
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